JPH0449590Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0449590Y2 JPH0449590Y2 JP9670287U JP9670287U JPH0449590Y2 JP H0449590 Y2 JPH0449590 Y2 JP H0449590Y2 JP 9670287 U JP9670287 U JP 9670287U JP 9670287 U JP9670287 U JP 9670287U JP H0449590 Y2 JPH0449590 Y2 JP H0449590Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dut
- socket
- type
- program
- socket adapter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9670287U JPH0449590Y2 (en]) | 1987-06-24 | 1987-06-24 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9670287U JPH0449590Y2 (en]) | 1987-06-24 | 1987-06-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS642173U JPS642173U (en]) | 1989-01-09 |
JPH0449590Y2 true JPH0449590Y2 (en]) | 1992-11-20 |
Family
ID=30962737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9670287U Expired JPH0449590Y2 (en]) | 1987-06-24 | 1987-06-24 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0449590Y2 (en]) |
-
1987
- 1987-06-24 JP JP9670287U patent/JPH0449590Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS642173U (en]) | 1989-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003130919A (ja) | コネクションボックス及びdutボード評価システム及びその評価方法 | |
JPH09218245A (ja) | 改良型mdaテスタで使用するためのハイブリッドスキャナ | |
KR20070074558A (ko) | 표준 재구성가능한 로직 디바이스를 사용한 집적 회로 또는전기적 모듈의 저비용 테스트 | |
DE102006035045A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Eliminieren der Indexzeit einer automatischen Testausrüstung | |
JPH04213079A (ja) | 任意波形の検査システム | |
JPH0449590Y2 (en]) | ||
JPH05111141A (ja) | リレー試験装置 | |
KR100219392B1 (ko) | 기능 검사가 가능한 범용 계측기 | |
KR100355716B1 (ko) | 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법 | |
JPH05190637A (ja) | 半導体集積回路の試験方法 | |
JPH01129432A (ja) | 集積回路 | |
JPS6329277A (ja) | 論理集積回路の試験装置 | |
JP3276888B2 (ja) | 機器の電気的物理量試験装置 | |
KR930006962B1 (ko) | 반도체 시험방법 | |
KR0179093B1 (ko) | 테스트 어댑터 보드 체크기 | |
JP2004340899A (ja) | 半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるdc系中継手段 | |
JPH04113279A (ja) | 半導体集積回路試験装置 | |
JPH10123203A (ja) | Icテストシステム | |
JPS63211642A (ja) | 半導体試験装置 | |
KR0148723B1 (ko) | 단일 모듈 구조를 갖는 검사 장비를 이용한 집적회로 병렬 검사 시스템 및 방법 | |
JP2983109B2 (ja) | 抵抗検査装置 | |
JPS6221069A (ja) | コンタクト式マルチプロ−ブ | |
JPS6228678A (ja) | 半導体集積回路の試験装置 | |
JPH0785100B2 (ja) | Ic試験装置 | |
JPH0261717B2 (en]) |